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表面粗糙度量儀產品列表
  • SJ5701粗糙度輪廓測量儀 SJ5701粗糙度輪廓測量儀廣泛應用于機械加工、汽車、軸承、機床、摸具、精密五金、光學加工等行業(yè)。該儀器可測量各種精密機械零件的粗糙度和輪廓形狀參數。用擬合法來評定圓弧和直線等。從而可測量圓弧半徑、直線度、凸度、溝心距、傾斜度、垂直距離、水平距離、臺階等形狀參數。該儀器還可對各種零件表面的粗糙度進行測試；可對平面、斜面、外圓柱面、內孔表面、深槽表面、圓弧面和球面的粗糙度進行測試,并實現多種參數測量。
  • SJ5700輪廓測量儀 SJ5700輪廓測量儀特點如下:高精度、高穩(wěn)定性、高重復性：分辨力0.01μm，完全滿足被測件測量精度要求。國際領先的高精度光柵測量系統(tǒng)，分辨力達到0.01μm，測量精度高；自主研發(fā)高精度研磨導軌系統(tǒng)，導軌直線度達到2um/200mm，導軌材料耐磨性好、保證系統(tǒng)穩(wěn)定可靠工作；
  • 成都粗糙度儀 TIME3222粗糙度儀是觸針式表面粗糙度儀，它適用于生產現場、實驗室、計量室，可測量多種機加工零件的表面粗粗
  • SJ5700輪廓測量儀 表面全自動輪廓測量儀生產廠家 SJ5700輪廓測量儀由深圳中圖儀器研發(fā)、生產和銷售，這款全自動輪廓測量儀精度高、使用方便、功能強。
  • 東京精密圓度儀 75GB 東京精密圓度儀，輪廓儀，粗糙度測量儀，粗糙度輪廓儀
  • 東京精密輪廓儀 2700DX 2700SD 天津東京精密授權代理商，東京精密三坐標，輪廓儀，圓度儀。
  • 東京精密 粗糙度輪廓一體機 3000A 天津東京精密授權代理商，專業(yè)銷售東京精密三坐標，輪廓儀，粗糙度儀，圓度儀
  • 東京精密粗糙度儀2800E 粗糙度儀2800E 融合了高性能和優(yōu)良的操作性的表面粗糙度、輪廓復合機。 特點1 東京精密公司的綜合測量機，配備了TIMS系統(tǒng)。圖標式的簡單粗糙度、輪廓畫面切換，并可將測量結果在同一頁面綜合輸出打印。（粗糙度/輪廓） 特點2 機器配備了AI智能判別系統(tǒng)。機器可以自動設定測量條件并自動進行測量。（粗糙度部分） 特點3 可自動記錄操作功能并進行回放。驅動部可自動記錄測量、評價、數據分析的全過程，并可重復自動運行。（粗糙度/輪廓） 特點4 機器中包含有自動的圖形判定功能。點、直線、圓等不指定也可自動進行判斷。（AI智能判別）（輪廓部分） 特點5 尺寸線標注功能。參數、幾何偏差的實測值都可以直接標注在輸出的圖形上。（輪廓部分） 特點6 幾何形狀合成功能，解決了由于測針角度而產生的分析范圍受限制的問題。
  • 東京精密粗糙度測量和高精度的輪廓測量2900DX2 2900SD2 天津東京精密授權代理商，東京精密三坐標，東京精密輪廓儀，東京精密粗糙度儀，東京精密圓度儀，東京精密粗糙度輪廓儀
  • 東京精密便攜式粗糙度儀FLEX-50A 特點： 1：任何地點均可測量 2：設計緊湊，可手持式操作 3：適合現場作業(yè)，內置式打印機 4：可現場確認測量結果，彩色屏幕易于觀看 5：采用大屏幕顯示，使操作更加方便 6：根據工件不同選擇不同驅動部，可以實現從簡單粗糙度到波紋度測量 7：可以用現有的驅動部與FLEX顯示部組合
  • 東京精密便攜式粗糙度儀 E-35B 可使用7國語言、適用于各國規(guī)格、可用電池、能與電腦連接 簡單操作——AI功能，減少操作失誤  AI功能（專利申請中）根據被測表面狀態(tài)自動設定最佳測量條件，包括測量范圍、評價長度、截止波長和記錄放大倍率（使用打印機時），進行測量。 世界各國通用——E-35B  標準配備符合ISO、JIS（200119941982）、ASME、CNOMO等各國規(guī)格。  有日語、英語、德語、法語、意大利語、西班牙語、葡萄牙語等7國語言可供選擇。本測量機通過了歐洲的安全規(guī)格CE標志。
  • 東京精密便攜式粗糙度儀 130A 從操作人員的角度，追求機器的操作性的小型表面粗糙度測定機。 特點1 采用操作簡單的寬屏彩色液晶觸摸TFT顯示器。 特點2 液晶觸摸屏可以使用觸摸筆或手指進行操作，在現場環(huán)境下也可以使用。 特點3 用模塊式的圖標表示各種機能，使操作者可以高效率的測量。 特點4 可以輸入允許測量規(guī)格，并進行AI智能判別。 特點5 機器安裝了為初學者制定的測量指導功能。 特點6 為了便于管理可以將測量條件和測量結果記錄在機器配備的PC卡里。 特點7 可以滿足新、舊JIS、ISO、DIN、ASME標準以及CNOMO規(guī)格等評定。
  • 東京精密S5000DX 表面粗糙度測量機 測量范圍（mm） Z軸（縱向） 13mm/50mm測臂、臂26mm/100mm測臂 X軸（橫向） 200mm 精度 Z軸指示精度（縱向） ±(0.2+2| H |/100) mm 　 　（±0.206μｍ/ H±6ｍｍ） 測量分辨率0.31ｎｍ/50ｍｍ測臂 X軸指示精度（橫向） ±0.2＋L/1000μｍ　?。ā?.4μｍ/L200ｍｍ） 測量分辨率0.54nm 直線度精度0.05＋3L/10000μｍ　（0.11μｍ/L200ｍｍ） 測量方式 Z軸（縱向） 高穩(wěn)定倍光路型激光干涉計 X軸（橫向） 反光分析光尺
  • 非接觸式表面輪廓測量儀 CCI光學裝置 無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。
  • 非接觸式表面輪廓測量儀 CCI SunStar 無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI SunStar非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。
  • 非接觸式表面輪廓測量儀 CCI MP-HS CCI MP-HS非常適合用于研究領域，從非常粗糙的表面到極其光滑的表面，任何類型的表面它都能測量，因而具備測量各種元件的能力。
  • 非接觸式表面輪廓測量儀 CCI MP CCI MP 是一種多功能的非接觸式 3D 輪廓儀，可測量拋光表面、粗糙表面、曲面、平面或臺階面
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