Pinnacle光學(xué)式坐標(biāo)測量儀
產(chǎn)地:上海
品牌:奧智品
編碼:0
Pinnacle光學(xué)式坐標(biāo)測量儀,高精度,非接觸測量系統(tǒng)
·U2(XY平面)=(1.5+L/250)μm
·分辨率 0.1μm (0.025μm作為選配)
·高速馬達(dá) 400 MM/sec
·雙套不同倍率光學(xué)系統(tǒng)
·Windows 2000操作系統(tǒng)
·自定義客戶界面
·多元傳感,影像系統(tǒng)和激光系統(tǒng)
·具有專利權(quán)的可編程的環(huán)光(PRL)
·獨(dú)有的邊緣尋邊的算法程序